<strike id="gaamm"></strike><del id="gaamm"></del>

<strike id="gaamm"></strike>

電子資訊

分享半導體行業媒體最新資訊，開展行業的技術交流、思想碰撞、信息互換、資料查詢等，以市場趨勢為導向、以客戶滿意為結果，銳意進取持續發展。

兆易創新收購蘇州賽芯，強化模擬芯片戰略

更新日期： 2024-11-06
瀏覽次數： 1895

11月5日晚間，國產存儲芯片及MCU大廠兆易創新發布公告稱，擬與多家投資方組共同以現金方式收購蘇州賽芯電子科技股份有限公司（以下簡稱“蘇州賽芯”或“標的公司”）全體股東合計持有的蘇州賽芯70%的股份。根據北京卓信大華資產評估有限公司對蘇州賽芯 100%股權截至基準日（即 2024 年 6 月 30 日）的價值進……

查看詳情 >>

版圖設計是一門技術，也是一門藝術

更新日期： 2024-10-31
瀏覽次數： 1408

我們可以將集成電路版圖設計比作城市規劃和建筑設計的結合。就像在有限的土地上規劃建筑和道路布局一樣，版圖設計需要在有限的芯片空間上安排晶體管、布線和各類元件，以實現功能和性能的最大化。一、什么是版圖設計？版圖設計是將電路的邏輯功能通過物理層次實現出來的過程。它類似于建筑圖紙的設計工作，需要通過EDA工具（……

查看詳情 >>

如何在晶圓上生長二氧化硅（SiO2）

更新日期： 2024-10-31
瀏覽次數： 2065

氧化工藝在CMOS集成電路制造中是一個非常重要的步驟，用于在硅片（Si wafer）表面生長二氧化硅（SiO2）。生長SiO2的過程可以類比為給硅片“穿上一層保護外衣”，這種外衣可以起到絕緣、防護和隔離等作用。 1. 準備基材（硅片）首先，需要準備一塊高純度的硅片。這就像在一張空白的畫布上進行繪畫，硅片是……

查看詳情 >>

閑聊低電壓模擬芯片設計技巧

更新日期： 2024-10-31
瀏覽次數： 1279

低電壓模擬電路設計技術的核心是要在盡可能低的電源電壓下，實現高效的模擬信號處理。這種設計思路主要受到移動設備、植入式醫療設備等應用場景的需求驅動。由于這些設備的空間和能量資源有限，工程師們需要找到能夠在低電壓（如3V以下）下高效工作的電路設計方法。 1. 技術選擇與工藝背景低電壓設計首先受到半導體工藝的限……

查看詳情 >>

涉嫌向韓國泄露長鑫存儲相關信息，三星前員工被中國警方逮捕！

更新日期： 2024-10-30
瀏覽次數： 2719

據《朝鮮日報》、朝中社等媒體報道，韓國駐華大使館于10月28日表示，一名50歲韓國男子A某因涉嫌“向韓國泄露中國半導體信息”，被以“間諜罪”于去年12月被中國警方拘留。這是自去年 7 月中國修訂的《反間諜法》生效以來，第一起根據該法逮捕韓國人的案件。報道稱，A某現居安徽省合肥市，在當地一家半導體公司工作，與妻子……

查看詳情 >>

中國在硅光子集成領域取得里程碑式突破！

更新日期： 2024-10-26
瀏覽次數： 1573

據“九峰山實驗室”官方消息，2024年9月，該實驗室在硅光子集成領域取得里程碑式突破性進展——成功點亮集成到硅基芯片內部的激光光源，這也是該項技術在國內的首次成功實現。顯微鏡下，片上光源芯片的光輸出視頻隨著人工智能大模型的開發和應用，以及自動駕駛等技術的發展，對于芯片算力的需求持……

查看詳情 >>

國產電動汽車拿下全球66%市場，但90%芯片仍依賴進口！

更新日期： 2024-10-26
瀏覽次數： 1691

據《經理人》援引研究機構Rho Motion的最新調查數據報道稱，2024年9月，全球電動汽車市場總計售出170萬輛電動車，創下新的銷售紀錄。其中，以中國電動汽車市場表現最突出，單月銷售110萬輛刷新紀錄，幾乎占全球市場66%的份額。 2024年初至9月底，全球共賣出1,150萬輛電動車，其中國市場銷量高達720……

查看詳情 >>

英偉達2024年將出貨10億個RISC-V 內核

更新日期： 2024-10-26
瀏覽次數： 1926

10月25日消息，據Tomshardware援引@NickBrownHPC 的爆料稱，盡管英偉達（NVIDIA）的 GPU 依賴于其專有的 CUDA 內核，這些內核具有其指令集架構并支持各種數據格式。但是在本月的RISC-V峰會上，英偉達透露，這些內核由依賴于行業標準 RISC-V ISA 的定制內核控制，盡管有一些擴……

查看詳情 >>

EMMI在半導體器件失效分析的重要性

更新日期： 2024-10-24
瀏覽次數： 1668

失效分析的目的是通過技術手段找出器件失效的根本原因，并推動改進措施的實施，從而提升生產工藝、改善產品質量、提高良率和可靠性。EMMI是在失效分析過程中經常使用的設備之一，它們能夠幫助分析人員檢測電氣故障，并定位失效的具體位置。 1. EMMI的基本原理 EMMI（Electro-Magnetic Induc……

查看詳情 >>

CP測試和WAT測試的區別

更新日期： 2024-10-23
瀏覽次數： 2164

在集電路的制造和測試過程中，CP測試（Chip Probing）和WAT測試（Wafer Acceptance Test）是兩個非常重要的測試環節。盡管它們都在晶圓（Wafer）階段進行，但二者的目的、測試對象、測試內容和作用是有顯著不同的。一、整體概述：CP測試和WAT測試我們可以把集成電路的制造過程……

查看詳情 >>

一文讀懂探針卡的概念、組成、分類以及應用

更新日期： 2024-10-23
瀏覽次數： 4389

探針卡（Probe Card）在集成電路測試中起著至關重要的作用，尤其在晶圓測試（wafer test）環節，探針卡作為連接ATE測試機臺和半導體晶圓之間的接口，確保了在芯片封裝前對其電學性能進行初步測量和篩選。 1. 什么是探針卡？探針卡可以形象地比作“醫生的聽診器”，幫助工程師“聽到”芯片的“心跳”。……

查看詳情 >>

為什么研發EUV光刻機那么難？

更新日期： 2024-10-23
瀏覽次數： 2269

雖然表面上看，光刻機是半導體制造的工具之一，但它的背后涉及復雜的多學科交叉與全球化合作。 1. 極端紫外光源的挑戰：就像尋找“完美的燈泡” EUV光刻機依賴于波長僅為13.5納米的極端紫外線（EUV）光源，而這種光源的產生與控制是最大的技術挑戰之一。你可以把EUV光源想象成一個非常難以控制的“燈泡”，但這個……

查看詳情 >>

上一頁 5 6 7 8 9 10 11 下一頁